本文介紹了一種配備自動化和可重復(fù)的 DIC(微分干涉對比)成像的 6 英寸晶圓檢測顯微鏡,無論用戶的技能水平如何。制造集成電路(IC)芯片和半導(dǎo)體組件需要進(jìn)行晶圓檢測,以驗(yàn)證是否存在影響性能的缺陷。這種檢測通常使用光學(xué)顯微鏡進(jìn)行質(zhì)量控制、故障分析和研發(fā)。為了有效地可視化晶圓上結(jié)構(gòu)之間的細(xì)微高度差異,可以使用 DIC 。
生產(chǎn)過程中顆粒的污染給電池制造商帶來了諸多挑戰(zhàn)。不同大小和組成的顆粒會沉積在電池內(nèi)部,導(dǎo)致短路、過熱、性能下降和電池壽命縮短。在電池生產(chǎn)過程中,快速準(zhǔn)確地識別可能造成損害的顆粒對于實(shí)現(xiàn)快速可靠的質(zhì)量控制至關(guān)重要。利用光學(xué)顯微鏡的清潔度分析解決方案可用于高效且具有成本效益的電池顆粒檢測和分析。為了更好地了解顆??赡茉斐蓳p害的潛力,結(jié)合光學(xué)顯微鏡與LIBS的“二合一”解決方案,對顆粒進(jìn)行同時的視覺和化學(xué)評估,將是一個優(yōu)勢。
關(guān)于數(shù)碼顯微鏡,您一直想知道但從未問過的問題
數(shù)碼顯微鏡要求光學(xué)顯微鏡配備數(shù)碼相機(jī),但不需要目鏡。樣品的圖像可直接在電腦顯示屏上觀察和分析。數(shù)碼顯微鏡也可以是傳統(tǒng)的體視顯微鏡或復(fù)合顯微鏡,它們有目鏡,但也配備了攝像頭,并保存有關(guān)顯微鏡狀態(tài)和攝像頭設(shè)置點(diǎn)的反饋信息。在本文的其余部分,我們將使用 "數(shù)碼顯微鏡 "一詞來指代不帶目鏡的顯微鏡,例如 Leica DVM6和Emspira 3,但不包括配備攝像頭的體視顯微鏡或復(fù)合顯微鏡。
電機(jī),作為驅(qū)動單元,是新能源汽車的“心臟”。電機(jī)主要由三部分組成:定子、轉(zhuǎn)子和殼體。電機(jī)技術(shù)的關(guān)鍵在定子和轉(zhuǎn)子。轉(zhuǎn)子是新能源汽車的主驅(qū)動電機(jī),它承擔(dān)了與新能源汽車運(yùn)動相關(guān)的大部分功能。隨著科技的發(fā)展和對新能源汽車的需求日益加劇,新能源汽車電機(jī)正面臨著越來越大的性能挑戰(zhàn):高轉(zhuǎn)矩、高驅(qū)動效率、轉(zhuǎn)矩控制靈活等。通過提高定子、轉(zhuǎn)子、殼體的材料加工精度、承載強(qiáng)度可以降低電機(jī)的損耗,從而讓電機(jī)效率變得更高。對于這些材料性能的研究都依賴于光學(xué)顯微鏡下的微觀結(jié)構(gòu)分析。
體視顯微鏡通常是實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)現(xiàn)場對樣品進(jìn)行三維感知時的第一選擇。用戶經(jīng)?;ㄙM(fèi)大量時間通過目鏡對樣品進(jìn)行顯微分析、觀察、記錄或解剖。因此必須認(rèn)真選擇顯微鏡以確保滿足用戶的需求。本文建議用戶在評估和選擇顯微鏡之前,仔細(xì)思考自身的需求。本文還描述了哪些關(guān)鍵因素會影響體視顯微鏡的性能,這對于用戶的具體應(yīng)用而言非常重要。
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